产品品牌：

K-MAC 韩国科美

产品型号：

ST2000-DLXn

测量范围：

200＆#8491;~ 35＆#13211;(根据膜的类型)

重量：

12Kg

外形尺寸：

190 x 265 x 316 mm

外形尺寸：

190 x 265 x 316 mm

重量：

12Kg

尺寸	190 x 265 x 316 mm
重量	12Kg
类型	手动的
测量样本大小	≤ 4"
测量方法	非接触式
测量原理	反射计
特征	测量迅速，操作简单  非接触式，非破坏方式  的重复性和再现性  用户易操作界面  每个影像打印和数据保存功能  可测量多达3层  可背面反射

尺寸：190*265*316mm

重量：12kg

类型：手动的

测量样本大小：≤4"

测量方法：非接触式

测量原理：反射计

特征：测量迅速、操作简单、非接触式、非破坏式、的重复性和再现性、用户易操作界面、每个影像打印和数据保存功能、可测多达3层、可背面反射。

尺寸	190 x 265 x 316 mm
重量	12Kg
类型	手动的
测量样本大小	≤ 4"
测量方法	非接触式
测量原理	反射计
特征	测量迅速，操作简单  非接触式，非破坏方式  的重复性和再现性  用户易操作界面  每个影像打印和数据保存功能  可测量多达3层  可背面反射

 

活动范围	150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
测量范围	200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
光斑尺寸	20㎛ 典型值
测量速度	1~2 sec./site
应用领域	聚合体: PVA, PET, PP, PR ...  电解质:  半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
选择	参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
探头类型	三目探头
nosepiece	Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明类型	12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer

尺寸	190 x 265 x 316 mm
重量	12Kg
类型	手动的
测量样本大小	≤ 4"
测量方法	非接触式
测量原理	反射计
特征	测量迅速，操作简单  非接触式，非破坏方式  的重复性和再现性  用户易操作界面  每个影像打印和数据保存功能  可测量多达3层  可背面反射

 

 

活动范围	150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
测量范围	200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
光斑尺寸	20㎛ 典型值
测量速度	1~2 sec./site
应用领域	聚合体: PVA, PET, PP, PR ...  电解质:  半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
选择	参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
探头类型	三目探头
nosepiece	Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明类型	12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer

活动范围：150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)

测量范围：200Å~ 35㎛(根据膜的类型)

光斑尺寸：20㎛ 典型值

测量速度：1~2 sec./site

应用领域：聚合体: PVA, PET, PP, PR ...

               电解质:                半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... 选择：参考样品(K-MAC or KRISS or NIST) 探头类型： 三目探头  nosepiece：Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt 照明类型： 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer