产品品牌：

Labthink兰光

产品型号：

CHY-C2

测量范围：

0~2mm常规

薄膜测厚仪

薄膜测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。薄膜测厚仪符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多项标准。

薄膜测厚仪CHY-C2具有以下特点：

1.接触式测量；

2.测头自动升降；

3.手动、自动双重测量模式；

4.数据实时显示、自动统计、打印；

5.显示值、小值、平均值和统计偏差；

6.标准接触面积、测量压力（非标可选）；

7.标准量块标定。

Labthink兰光拥有先进的检测技术与实验室，致力于为范围医药、食品、日化、包装、印刷、胶粘剂、汽车、石化、环境、生物、新能源、建筑、航空及电子领域客户提供、全面的品质控制解决方案。了解详情请致电：济南兰光