产品品牌：

菲希尔Fischer

产品型号：

X-RAY XDVM

测量范围：

0.03

FISCHERSCOPE X-RAY XDVM测厚仪，是针对高要求用户设计的，能够测量极精密的样品，如：微形部件或线路板上极微细的表面结构，它的新颖X－射线光学镜片，创新的X-射线光学原理，使这部仪器能产生非常小，但高辐射强度的测量点，所以，测量数十微米的面积的结构也变成可能。主要应用于线路板测试、极细的铅框一片片的扫描（指定面积），如：硬盘镀层、细微的线。有极高，可编程的XYZ测量台及大移动范围，测量室为长方形内槽设计，容许放入大面积的物件进行测量。
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