菲希尔X射线荧光膜厚测量仪
价格:电议
地区:
电 话:86-0755-29371651
手 机:13603036715
产品品牌:
菲希尔Fischer
产品型号:
XUDL
测量范围:
0.01

X射线发生系统为X射线聚焦光学系统(聚焦导管)与X射线源相结合,并且可以照射出实际照射直径为0.1mmφ以下高强度的X射线束。为此,可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而无法得到理想的导线架、插接头、柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。