产品品牌：

菲希尔Fischer

测量范围：

0.01

X射线发生系统为X射线聚焦光学系统（聚焦导管）与X射线源相结合，并且可以照射出实际照射直径为0.1mmφ以下高强度的X射

线束。为此，可以对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而无法得到理想的导线架、插接头、柔性线路板等微

小部件及薄膜进行测量。同时搭载高计数率、高分辨率的半导体检测器，在测量镀层厚度的同时，也能对RoHS、ELV、中国版

RoHS等法规所管制的有害物质进行分析测量。