配置及基本参数：

l      高灵敏电制冷AMPTEK-X123型Si-PIN探测器(美国产)／探测面积：5-25mm2／分辨率：149eV

l      美国spellman公司生产专用电源／输入电压: +24v DC，偏差±5%

l      美国牛津公司生产X荧光分析仪专用光管灯丝电压: 2.2V对应50 kV/1mA

l      摄像定位系统：30万像素／800×600分辨率／32位真彩

l      特殊材质的X射线滤光片

l      专为不同测试样件设计的专用准直器

l    MLSQ-FP分析软件模块(集ROHS有害元素分析、金属元素分析、电镀层厚度分析、全元素分析)

l      采用多道脉冲分析器

l      美国原装进口初始化标样

l      开盖感应与警示灯响应防辐射装置／级防辐射12MM厚合金铝板外壳

l      计算机及喷墨打印机

l      样品腔尺寸：320×330×80mm可实现超大样品的测试

l      外形尺寸：400×350×450mm

仪器性能／技术指标：

l      测定元素原子编号11（Na）~ 92 (U)

l      可同时分析样品中25个金属的含量极成分

l      测试样品形态：固体，粉末，液体，滤渣，镀层及其他

l      元素含量分析范围为1 PPm到99.99%

l      多次测量重复性可达0.1%

l      长期工作稳定性为0.1%

l      检测时间100-120秒

l      样品观察：高清晰CCD摄像头可实现准确定位微小物体测量及产品拍照功能

l      可以对铜、锌、铁、不锈钢等任意基体的金属做成分分析

l      系统支持化合物换算，即通过金属元素的分析可以换算出该金属在物体里相应化合物的比例

l      定性分析功能／定量分析功能

l      自动辨别，图谱比对

l      统计处理功能／制作功能

工作环境要求：

l      工作温度：15-30℃

l      相对湿度：≤65%

l      电源：AC220V，200W（建议使用者配UPS稳压器)

仪器优势：

l      独特的MLSQ-FP分析软件模块可以内置无限多标样数据，极大的提高了测试和测试范围

l      软件支持无标样分析，无标样条件下误差小于1%，可任意进行定性定量分析，使用灵活，是目前市场上的软件插件

l      集ROHS有害元素分析、金属元素分析、电镀层厚度分析、全元素分析于一体的测试软件

l      光谱和分析界面分离，便于人员与非人员同时使用

l      软件可视频观察样品的放置

l      同时可显示25种元素分析元素结果

l      仪器初始化、校准方便快捷

l      具有多种光谱拟合分析处理技术（是检出保证的技术）

1）Smooth(波峰光滑处理)

2）Pickup Removal(拾取峰去除)

3）Escape peak(逃逸峰处理)

4) Background Removed(背景去处)

5) Blank Subtraction(空白峰位去除)

6) Compton Peak(康普顿波峰处理)

7) Deconvolute(去卷积积分处理)

 S＆S-EDX-900 X荧光光谱仪应用领域：

主要适用有色金属行业，CU误差不超过0.2

1、电子信息产品污染控制管理办法
2、WEEE&RoHS及ELV指令
3、玩具中有害重金属的检测
4、无铅焊锡分析
5、无卤化分析

6、金属冶炼、工厂制造全元素分析

7、各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量

8、营养添加剂,各种油品成份分析等

9、气溶胶颗粒滤膜，刑侦以及痕量分析

10、土壤、催化剂、矿石、原材料成份分析等

整机保修1年，X射线管保修2年