集40多年的探针轮廓技术创新于一身，该系统在行业内的表现，以重现性和标准扫描范围而著称。它提供各种各样的配置和附加选项，用于程序化测量、低探针力表征和细节分析台阶仪 Dektak 150 表面轮廓仪（探针式）规格：测试技术：探针轮廓技术测试功能：二维表面轮廓测试样品视场：640*480像素，USB；17 inc 平板显示器探针传感器：低惯量传感器（LIS 3）探针压力：使用LIS 3传感器：1至15 mg          使用N-lite传感器：0.03至15 mg探针选项：探针曲率半径可选范围：50 nm至25 um;          高径比针尖：10 um * 2 um 和200 um*20 um样品载物台：手动X/Y/@：100*100 mm, 360度旋转，可手动校平；            可选Y自动移动载物台，100 mm行程，1um重现性，0.5 um分辨率；            可选X-Y自动移动载物台，150 mm行程；            1um重现率，0.5 um 分辨率计算机系统：主机使用celeron或者semprom处理器以上是探针轮廓仪（台阶仪）DEKATK150的详细信息，如果您对探针轮廓仪（台阶仪）DEKATK150的价格、厂家、型号、图片有什么疑问，请联系我们获取探针轮廓仪（台阶仪）DEKATK150的新信息。