相位差量测检查机 RETS 100
价格:电议
地区:广东省 深圳市
电 话:0755-82047754-806
手 机:15814060108
传 真:0755-82047767

?         产品特色:

 可更加的量测微小相位差(0.1nm~)。

 适合作为评估相位差的波长分散、自动检测配向角(光学轴)或角度配向性等光学膜偏光特性的装置。

 检测器采用多频谱分光光谱仪,展现任一个波长的高相位差量测。

 可选配倾斜式、旋转式量测平台,评估三次元折射率参数解析等视野角特性。

 配合量测样品,自由架构量测平台。

?         测量项目:

相位差的波长落差

液晶层间隙(Cell gap)

配向角(光学轴)

方位角、椭圆率、偏光度

穿透率

色度

三次元折射率参数


?         应用范围:

■ 光學薄膜
?相位差膜、橢圓膜、相位差板
?偏光膜、附加功能偏光膜、偏光板、其它光學材料

■ 液晶層
?穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強誘電性液晶)
?反射型液晶層(TN,STN)

?         规格样式:

样品对应尺寸

小20×20mm - 100×100mm
(厚度 : 2.5mm以下)

相位差量测范围

旋转检光法

约 0nm ~ 数μm

光干涉法

约450nm ~ 数μm

检测器

分光光谱仪

量测波长范围

400 ~ 800nm

量测口径

φ1, φ2, φ5, φ10mm

光学系统

偏光光学系统
消光率10-5的方解石偏光镜 (Gran-tomson prism)
自动旋转(角度0.1°)
自动装卸装置

量测用光原

100W卤素灯

电源供应器规格

AC100V±10V、1.5kVA

尺寸、重量

540(W)×580(D)×1000(H) mm, 约60kg


品牌/商标

OTSUKA

企业类型

贸易商

新旧程度

全新

原产地

日本Japan