技术指标：元素分析范围：从K到U性可同时分析多层镀层分析厚度检测出限达0.05um同时可分析多达5层以上镀层相互独立的基体效应校正模型，先进厚度分析方法多次测量重复性可达0.05um长期工作稳定性小于0.1um（5um左右单镀层样品）温度适应范围：15℃~30℃输出电压220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源）配置开放式样品腔二维移动样品平台探测器和X光管上下移动可实现三维移动双激光定位装置准直器自动切换装置玻璃屏蔽罩正比计数盒探测器信号检测电子电路高低压电源X光管计算机及喷墨打印机样品腔尺寸：517mm×352mm×150mm外型尺寸：648mm×490mm×544mm以上是X射线荧光测厚仪的详细信息，如果您对X射线荧光测厚仪的价格、厂家、型号、图片有什么疑问，请联系我们获取X射线荧光测厚仪的新信息。