OceanOptics光纤光谱仪>>其它>>SpecEl椭偏仪SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光，进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。SpecEl通过PC控制来实现折射率，吸光率及膜厚的测量。  集成的测量系统SpecEl由一个集成的光源，一个光谱仪及两个成70°的偏光器构成，并配有一个32位操作系统的PC.该椭偏仪可测量0.1nm-5um厚的单膜，并且折射率测量可达0.005%。SpecEl可通过电话问价。 SpecEl软件及Recipe配置文件通过SpecEI软件，你可以配置及存贮实验设计方法实现一键分析，所有的配置会被存入recipe文件中。创建recipe后，你可以选择不同的recipe来执行你的实验。 SpecEI软件截图显示的Psi及Delta值可以用来计算厚度，折射率及吸光率。配置说明波长范围:380-780 nm (标准)或450-900 nm (可选)光学分辨率:4.0 nm FWHM测量:厚度0.1 nm ;折射率0.005%入射角:70°膜厚:单透明膜1-5000 nm光点尺寸:2 mmx 4 mm (标准)或200 µm x 400 µm (可选)采样时间:3-15s (小)动态记录:3 seconds机械公差(height): /- 1.5 mm,角度 /- 1.0°膜层数:至多32层参考:不用以上是SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光-美国海洋光学的详细信息，如果您对SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光-美国海洋光学的价格、厂家、型号、图片有什么疑问，请联系我们获取SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光-美国海洋光学的新信息。