X射线荧光测厚仪X-Strata960?应用范围：?测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成.测量范围从22(Ti)到92(U).?5 层(4 镀层+ 基材) / 15 元素/ 共存元素校正?组成成分分析时可同时测定15种元素?测试方法全面符合ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987?仪器特点：?50 Watt 微聚焦X光管：提高计数率, 改善测试, 75 W升级?多准直器系统：提高了应用能力?镭射聚焦：更高的重现性?标准配置FP 软件包：复杂样品应用模式，更容易建立标准曲线?开槽式样品台设计：3种样品台，更适合样品装载?7种语言可用：用户界面; 英文, 中文, 日文, 韩文, 法文,德文,西班牙文?技术参数：?X射线激发系统：50 W (50kV /1mA) 微聚焦W阳极管?探测器：充Xe封气正比计数器,带二次滤光片?Digital Pulse Processing：4096 CH 数字多道分析装置. 自动信号处理,包括死时间校正和消除脉冲积累?计算机：Pentium 4, 2.8 GHz, 40 GbHD, 256Mb RAM with MicrosoftTMXP?电源：85~130 或215~265 伏特, 47Hz 到63Hz ?工作环境：50°F (10°C)到104°F (40°C) ,98% RH, 不凝固?工作台行程(XYZ 程控)：6” X 7” x 1.9” (15.2cm X 17.8cm X 4.8cm)以上是X射线荧光测厚仪X-Strata960的详细信息，如果您对X射线荧光测厚仪X-Strata960的价格、厂家、型号、图片有什么疑问，请联系我们获取X射线荧光测厚仪X-Strata960的新信息。