涂层测厚仪
价格:电议
地区:浙江省
传 真:0574-27688265
涂层测厚仪TT240概述
TT240覆层测厚仪|薄膜测厚仪是一种手持式测量仪,它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;可广泛用于在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域;是材料保护必备的仪器。
符合以下标准:
- GB/T 4957-1985 涡流方法
- JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》
- JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪
涂层测厚仪功能特点
- 采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度
(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层)
- 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
- 具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL)
- 设有五个统计量:平均值、值(MAX)、小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
- 可进行零点校准和二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
- 具有存贮功能:可存贮350个测量值
- 具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据
- 可设置限界:对限界外的测量值能自动报警
- 具有打印:可打印测量值、统计值
- 具有与PC机通讯的功能:可将测量值、统计值传输至PC机,以便对数据进行进一步处理
- 具有电源欠压指示功能
- 操作过程有蜂鸣声提示
- 具有错误提示功能
- 具有自动关机功能
涂层测厚仪技术参数
- 测头类型:N
- 测量原理:电涡流
- 测量范围: 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)
- 低限分辨力:1μm(10um以下为0.1um)
- 探头连接方式:分体式导线连接
- 示值误差:
- 一点校准(um):±[3%H+1.5]
- 两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5]
- 测量条件:
- 小曲率半径(mm):凸3 | 凹10
- 基体小面积的直径(mm):ф5
- 小临界厚度(mm):0.3
- 温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
- 统计功能:平均值、值(MAX)、小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差
- 工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
- 测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
- 上下限设置:无
- 存储能力:350个测量值
- 打印/连接计算机:可选配打印机/能连接电脑
- 关机方式:手动和自动
- 电源:二节AA型碱性电池
- 外形尺寸:152×47×35mm
- 重量:370g
涂层测厚仪基本配置
- 主机
- 铝基体
- 标准片一套|五片
- 二节AA型(5号)1.5V电池
- 仪器保护套
- 使用说明书
涂层测厚仪可选附件