本产品适用于半导体领域内，测量薄膜厚度的光学分析仪器。我公司的ST产品的测量时间非常短暂，测量方法是属于非接触非破坏方法，使用显微镜可以测量很小区域内的再现性和准确性，现在，我们公司的薄膜测厚仪是远远于使用其它方法的其它产品。

【】厚度测量领域内的分解能力属于世界初微小领域测量

【】可以专用于测量微小领域的厚度分布

【】可以测量Wafer上的多层薄膜厚度与光学常数-折射率与吸收率

【】可以实时的测量厚度变化量与具有角度显示，打印，保存功能

【】可以快速的在1秒之内接受data并且修复data