光学结构 

反射 : d/8;SCI ( 镜面光包含 )/SCE ( 镜面光不包含 ) 可切换 ; 

d/8 光学结构符合 ISO 和 DIN 标准 ; 

d/0 之光学结构也符合 CIE 和 ASTM 标准 穿透 : d/0. 

侦测器 

硅光电二极管（ 40 对组件） 

测量波长范围 

360 到 740nm 每间隔 10nm 

度 

反射率从 0 到 200% Resolution: 0.01%    

光源 

脉冲氙弧灯（× 4 ）  

测量时间 

大约 1.5 秒 . 

测量间隔时间 

4 秒，当测量 SCI/SCE 时 

UV 光调整 / 过滤 

瞬时数字化UV调整和 400nm&420nm 截断 

穿透测量之样品 

薄片 , 色板 , 或 液体 ( 装在容器中 ) 厚度不超过 50mm 

再现性 

光谱反射率 : 标准偏差 ≦ 0.1% 

色差值 : 标准偏差Δ E*ab ≦ 0.02 

( 测量条件 : 执行校正后测量校正白板 , 测 30 次每次间隔 10 秒 ) 

机台交换性 (LAV) 

平均Δ E*ab 0.15 基于 12 BCRA Series Ⅱ 色板测量值与标准机台比较 . 

温度影响 

光谱反射率 : ≦± 0.10%/ ℃ 色差值 : Δ E*ab≦ 0.05/ ℃ 

通讯接口 

RS-232C 

电源 

AC 120V/230V 50/60Hz 

操作温度 / 湿度范围 

13 to 33 ℃ ; 低于 80% 相对湿度 (at 33 ℃ 无冷凝 ) 

储存温度 / 湿度范围 

0 to 40 ℃ ; 低于 80% 相对湿度 (at 33 ℃ 无冷凝 ) 

体积 (W × H × D) 

244 × 208 × 378mm （ 9-5/8 × 8-3/16 × 14-7/8inch. ） 

重量 

12kg (26-7/16 lb.) 

标准配置 

校正白板 CM-A103; 目标罩 ( ψ 4mm)CM-A107; 目标罩 ( ψ 8mm)CM-A106 ；目标罩 ( ψ 25.4mm) CM-A105; 零点校正盒 CM-A104; 附件盒 CM-A109; 变压器 AC-A12; RS-232C 通讯线 CM-A52 

防尘罩； Unit Driver 软盘