X-4显微熔点仪(数显)
技术参数
熔点测量范围：室温至320℃
测量重复性：±1℃（在<200℃时）
±2℃（在200～300℃时）
光学放大倍数：目镜10X；物境4X
主要特点
测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
仪器介绍
测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定，显微镜观察。既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。