品牌	日本大塚OTSUKA旗下Photal	型号	MCPD-3700
用途	紫外、可视、近红外分光光谱仪

   
紫外到近紅外光領域的量測範圍。搭配多元的選配附件，量測對象與環境不受限制，適用於各領域的量測。16msec的高速光譜解析。顯微分光、發光光源、表面反射等光譜量測，與專用軟體的搭配組合，用途多元。提供架設於製程線上(In-line)的及時監控規劃。

發光光譜量測

穿透率、吸收率光譜量測

反射率光譜量測

螢光量測

物體色量測

光源色量測（色度、輝度、照度）

膜厚量測

	28C		310C		3595C		SC
波長範圍*1	200 ~ 800 nm		300 ~ 1000 nm		350 ~ 950 nm		380 ~ 780 nm
分光元件	光柵分光， F=3，f=135mm
波長*2	±0.3 nm		±0.5 nm		±0.3 nm		±0.3 nm
感光元件*3	光電二極管陣列(電子冷卻)
	512ch	1024ch	512ch	1024ch	512ch	1024ch	512ch	1024ch
解析能力	1.2nm	0.6nm	1.7nm	0.9nm	1.3nm	0.6nm	0.9nm	0.5nm
曝光時間*4	16msec ～ 20sec
光纖規格	石英製，金屬包覆，固定口徑∮12mm，長約1m
通訊介面	USB or LAN
尺寸重量	300（W） x 170（H） x 350（D）mm，約10kg

*1 搭配光纖時為220~800nm    *2 波長校正用光源對汞物理輝線之確認值    *3 可選擇512ch 或1024ch
*4 感度設定為Normal時
■發光光譜分析儀系統■反射光譜分析儀系統
■穿透、吸收光譜分析儀系統
■色度光譜分析儀系統
■光源光譜分析儀系統（色度/輝度/照度）
■膜厚光譜分析儀系統
■  螢光光譜分析儀系統）
■雙折射相位差光譜分析儀
■微光學元件光譜分析儀系統