技术指标：

分析范围：10%～99.99%

测量时间：自适应 30～200秒

测量：±0.1%

测试环境：常温常态

可分析元素：金(Au)，银(Ag)，铂(Pt)，钯(Pd), 铜(Cu)，铑(Rh)，钌(Ru)，锌(Zn)，镍(Ni)，镉(Cd)，

X射线源：X射线光管（风冷无辐射）

测量点尺寸：1～2mm

电压：100～127或200～240V，50/60 Hz

尺寸：500*500*350 mm（处）

重量：40kg

操作系统：Windows2000/XP

镀层测量：

镀层厚度范围<30μm

测量层数：5层

测量：0.03μm

仪器配置：

X光管

正比计数探测器

高压电源

放大电路

液晶显示屏幕

摄像定位系统

产品特点：

1）仪器性价比高

承诺，本公司各款测金仪价格，低于市场上任何一款同类产品的价格。本产品采用先进技术成果，提高了性能，节省了成本。

2）测量元素全面，涵盖贵金属行业补口数据库

能够测量：金Au（包括K金），铂金Pt，白银Ag，钯金Pd，铑Rh，铜Cu，锌Zn，镍Ni，钨W等金属元素。XRF软件针对贵金属企业解决贵金属含量分析问题。

3）快速定性定量判断

1～3秒可以对首饰做定性判断，30秒检测出结果。度可以达到0.1%，风冷散热循环系统，稳定，重现指标高。

4）率先将先进的摄像定位技术引入珠宝检测领域

该摄像定位系统除让首饰检测更加直观、X荧光更集中于目标位置外，还可以将首饰被检测到的位置的图片信息，连同计算一起打印出来。

5）售后服务遵循仪器仪表国家规定

产品实行国家仪器仪表“三包”,一年保修,三月包换，终生维护,终生软件升级。