品牌

天瑞

型号

TR

产品简介：针对RoHS检测设计开发 测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳 分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br 也可以测量镀层厚度※. 分析：0.05%
※. 样品室尺寸：1000*1000*300MM
※. 测量时间：60-300秒
※. 工作电源：220U±5U
※. 高 压：15-50KV
※. 管 流：600μA
※. 计数率：1300-8000Cps
※. ROHS指令有害元素仪检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br为1PPM
※. 检测时间为200秒
※. 电致冷硅针半导体探测器
※. 加强金属元素感度分析 仪器基本配置 ※.单样品腔※.计算机、喷墨打印机※.硅针半导体探测器
※.硅针半导体探测器
※.放大电路
※.高低压电源
※.X光管※.无真空腔体

使用领域：电子行业、机械制造、医疗卫生、生态研究、冶金有色、食品工业和商业、珠宝首饰、地质勘探、煤炭、造纸、建材行业