供:纳优E600X荧光光谱仪 RoHS+卤素一体仪
价格:电议
地区:浙江省
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品牌纳优型号NaU-E600
光源X射线波长范围110—900(nm)
焦距750(mm) 外形尺寸730×440×330(mm)
重量>30k(g) 适用范围适用于欧盟RoHS及无卤、美国CPISA等环保指令的管控,尤其是电子电气、塑胶颜料、涂料油漆厂等用户

 NaU-E600能量色散型X荧光光谱仪主要特点:

全光路辐射防护;全自动模块化控制;人性化操作界面;综合应用经验系数法、基本参数法等多种经典分析方法, 可完全满足RoHS/WEEE相关管控要求。精心设计的开放性工作曲线功能,根据企业物料情况量身定做,从而得到为准确、可靠的分析测试结果,特别适用于多材料的工厂制程控制。


 纳优系列仪器完全符合国际电工委员会IEC62321标准及中国环保标准所规定的技术要求和技术规范。

•   自选式功能组合
    用户根据自己的控制要求,可自主选择多元素测试软件或膜厚测试软件(二选一)
•   全自动配置
    全自动化的操作模式、人性化的操作界面,测试人员通过鼠标即可完成全程操作(原级滤光片、准直器、样品的移动和样品盖的开关、工作曲线的选择全部实现自动化控制,程序会根据预先设定的测试条件自动进行所有的切换动作);

•   照射区控制系统
    可调整的X光照射区域控制系统,实现了对测试区域的准确把握。从根本上保证测试数据与实际检测区域的完美对应。

•   成熟、经典的分析方法:
    凭借国家“七·五”“九·五”科技攻关计划之科技成果,集成近二十五年分析测试应用经验的经典数学分析模型,为测试者提供可靠、精准、稳定的分析结果。

•   强大的软件功能
    1、分析软件可根据样品材质、形状、大小的不同自动设定光管功率,既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能,大幅提高测量;

    2、提供开放式工作曲线标定技术平台,可为每家用户量身定做的有害物质检测和控制方案;

    3、融合了一系列先进的光谱处理方法,包括FFT(快速傅立叶变换滤波)、精准的背景扣除方法、微商自动寻峰和Quasi-Newton(准牛顿)优化算法等;

    4、国际的XRF分析软件,融合了包括经验系数法、基本参数法(FP法)、理论α系数法等多种经典分析方法,全面保证测试数据的准确性。

•   开放性工作曲线
    用户可很方便的根据自身材质状况,针对性的建立风险材料的专用工作曲线,全面提高工作曲线与被测材料的对应性。从而大幅度提升风险物质的检测,全面提升来料允收判定依据的可靠性。

•   严谨的硬件集成与结构设计
    对可能影响整机度及稳定性的器件,全部采用进口高端原厂器件。

    模块化设计与组件选择,确保了整机性能的稳定性与未来服务的操作简便性。

    特别设计的原级、二次滤光系统,既保证了对有害元素的激发效率,同时全面降低了作为干扰因素的背景强度,充分提高峰背比,大幅度降低检出下限。

•   全光路射线防护系统
    X光管、探测器、复合滤光处理系统、CCD、定位系统、全自动准直器切换系统等光路处理器件均集成在密闭结构中。确保光路系统的稳定性与密闭性,充分保证了测试安全。

    合理的8种复合滤光片组合和自动切换系统,既可以降低来自原级X射线干扰的影响,提高被测元素的灵敏度和测试,同时还具有辐射自动防护功能,有效保护操作者安全。

    特制高效散热系统,大幅度提供仪器的可靠性。全光路射线防护设计,又避免了无射线区域的无谓屏蔽与保护,进一步提高了散热效率。全面提升了仪器的环境适应性与稳定性。

    全光路辐射防护配合经典的迷宫式辐射防护设计,同时采用软、硬件双重安全连锁,确保操作人员人身安全。

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NaU-E600 产品参数(product parameter)

产品名称 (product name):Nayur X荧光无卤分析仪 (Nayur halogen-free XRF)

型    号(type):NaU-E600

测试对象(test object):粉未、固体、液体(powder, solid, liquid)

测量时间(test time):100-200s

管压(tube voltage):10KV-50KV

管流(tube flow):50uA-1000uA

环境温度(environment temperature):15℃-30℃

环境湿度(environment humidity):30%-80%

样品腔面积(sample cavity dimension ):400mm×400mm×100mm

外形尺寸(instrument dimension):730mm×440mm×330mm

重量(weight):30Kg

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NaU-E600 产品配置( product configure)

高分辨率电制冷半导体探测器(high-resolution electric refrigeration semiconductor detector)

卤素测试专用配件(halogen test accessory)

光路优化系统(optical optimization system )

内置高清晰CCD摄像头(high-resolution CCD camera)

自动切换准直器和滤光片collimators and filters automatic switching system

全自动定位测试系统(automatic positioning test system)

样品仓自动开关装置(fully automatic sample cavity)

三重安全保护模式(triple security protected mode)