技 术 参 数  

1、 仪器尺寸：686(W)x464(D)x390 (H)mm        

2、 样品腔尺寸：

小样品腔：300*300*100mm；

             大样品腔：无限制，小于30公斤

3、 重量：约50Kg

4、 工作环境温度：温度15—30℃

5、 工作环境相对湿度：≤85%（不结露）

6、 可分析元素范围 ：K-U

7、 检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm ,Pb≤5ppm 

8、 测量时间 ：300-500s (系统自动调整)

9、 分辨率：149±5eV

10、 输入电源：AC 220V±10%，50Hz

11、 额定功率 ：1500W

3.1探测系统

1、探测器 

类型：电制冷Si-PIN探测器

(采用PIN结构的高性能电致冷半导体探测器)

型号：X-123

制造商：美国Amptek公司生产

Be窗厚度：1mil(0.0254mm)

分辨率：149±5eV

系统峰背比：≥5000/1

能量响应范围：1keV~40keV

推荐计数率：5000cps（DP4 Peaking Time=25.6us）

2、信号处理系统DP4（与探测器高度集成）

放大器增益自动调整；

脉冲成型时间自动调整；

MCA通道数可达8K；

每一通道总计数可达24位（16.7M）

3.2 X光管

图  片

电   压: 0~50 kV

电流: 1.0 mA

功率: 50 W

灯丝电压: 2.0V @ 50 kV/1mA

灯丝电流: 1.7 A

射线取出角：12°

靶   材：Mo

Be窗厚度：0.5mm