F-P扫描干涉仪FPSI-632.8-P200激光模式（纵模）分析激光光谱分析
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地区：浙江省
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图文详情
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产品属性
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| 类型 | 激光扫描干涉仪 | 品牌 | 法珀激光 |
| 型号 | FPSI-632.8-P200 | 品种 | 激光干涉仪 |
| 测量范围 | 工作波长632.8nm | 测量分辨率 | 精细常数大于50 |
| 近工作距离 | 自由光谱范围200GHz（mm） | 用途 | 研究各种He-Ne激光的纵模动态变化 |
技术参数：
干涉仪规格：200GHz (平行平板)
适用波长：632.8nm（氦氖激光器）
精细常数：> 50
扫描周期：5 - 100Hz
扫描波形：锯齿波/三角波（0 - 350V）
应用领域：
研究各种He-Ne激光的纵模动态变化
FP SCANNING INTERFEROMETER
SPECIFICATIONS
Wavelengths 632.8nm
Free Spectral Range 200GHz (parallel plates)
Finesses 50（for parallel plates mode）
Scanning Period 0.2 - 0.01Sec
Scanning waveforms Saw wave / Triangle
APPLICATIONS
For Displaying the longitudinal modes of a He-Ne laser.
产品特色：
1、干涉仪接收器一体化，免维护；
2、扫描波形可选，增加了实验对比参考内容；
仪器主要清单：
1、光学头；2、驱动器；3、其他附件；
产品特色：
1、干涉仪接收器一体化，免维护；
2、扫描波形可选，增加了实验对比参考内容；