类型

光学显微镜

型号

多款

53X型正置金相显微镜用于观察金属、硅片等反射标本的表面结构。可在工矿实验进行金属材料质量检验，金属零件处理后的金相组织分析，硅片光刻过程中圆形的质量检验及其它反射标本表面微细结构的观察，也可观察具有一定反射率的透明标本的表面结构。