材　　料:Ge  (锗)

设计波长:8—14nm

曲率公差:±0.3%

外型公差:+0.0/-0.1mm

厚度公差:±0.05mm

面　　形:λ/

局部面形：　＜0.2

光洁度:40/20

偏　　心:<1'

有效孔径:>98%

倒　　边:<0.2×45°

镀　　膜: 按客户要求

材料特性：

锗材料用于辐射探测器及热电材料。高纯锗单晶具有高的折射系数，对红外线透明，不透过可见光和紫外线，可作专透红外光的锗窗、棱镜或透镜。锗对辐射的吸收能力随着温度上升而不断加强, 100摄氏度以上即对透光率产生明显的影响,严重影响光学系统的性能.锗元件由于其表面高反射率通常镀有减反膜.