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薄膜测厚仪 ST2000
价格：电议
地区：北京市
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手 机：13810666851
传 真：（8610）59222787

北京燕京电子有限公司

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        使用K-MAC公司的先进光谱系统，可以很快、很容易地测量透光或者半透光薄膜的厚度、折射率及消光系数。简单地将K-MAC系统插入您电脑的USB口，并开始进行测量。整个系统只需要几分钟来搭建，而测量过程也仅需要基础的电脑知识。

 尺寸  190 x 265 x 316 mm
 重量  12Kg
 类型  手动的
 测量样本大小  ≤ 4"
 测量方法  非接触式
 测量原理  反射计
 特征

 测量迅速，操作简单

 非接触式，非破坏方式

 的重复性和再现性

 用户易操作界面

 每个影像打印和数据保存功能

 可测量多达3层

 可背面反射

 活动范围  150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
 测量范围  200?~ 35?(根据膜的类型)
 光斑尺寸  20? 典型值
 测量速度  1~2 sec./site
 应用领域

 聚合体: PVA, PET, PP, PR ...

 电解质:

 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...

 选择  参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
 探头类型  三目探头
 nosepiece  Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
 照明类型  12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer

应用领域：

半导体    多晶硅, GaAs, GaN, InP, ZnS, SiGe …

电介质材料    SiO2, Si3N4, TiO2, ITO, ZrO2, BTS, HfO2 …

聚合物    PVA, PET, PP, PR …

LCD       a-Si, n+a-Si, ITO, 氧化物, 液晶盒, 光阻材料膜，聚酰亚胺膜，石英 …

光学镀膜       硬镀，抗反射膜，滤光片，包装膜，功能膜

可记录材料    感光鼓，视频头，光盘 …

其它       CRT和显象管荫罩上的光阻材料膜，薄金属膜，激光镜，AlQ3…

品牌/商标

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企业类型

贸易商

新旧程度

全新

原产地

韩国