方块电阻测试仪
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概述 XY系列方块电阻/电阻率测试仪,是智能型便携式测量仪器。是针对透明导电薄膜(如ITO玻璃)、电池导电薄膜、导电高分子薄膜、隔热防辐射(透光)导电膜、导电屏蔽膜(层)、金属溅射膜(薄层)、导电布以及半导体材料的方块电阻/电阻率测量而研制。仪器整机电路设计以先进的MCU技术为,实现智能化管理、控制整个工作过程,及时显示仪器的正常与不正常状况,保证每次测量的正确和可靠。仪器适用于科研、高校、生产、检验等机构对上述材料的测量。仪器特点 ■ 开机自动检测电源电压,“过高”和“过低”时停止任何测量作业; ■ 自动检测、区分“外部电源”和“内部电池”供电。外部电源时,自动检测内部电池,并充电和补充充电,可同时测量作业。无需更换内置电池; ■ 首先用低量程测量,超量程时,自动转换到高量程; ■ 提示测量值有效时刻; ■ 可内置RS232通讯模块。 ?技术参数 1.测量范围:0.0000~19999Ω/□ (以仪器面板为准。量程自动调整); 2.?? 测量误差:≤±2%+3字; 3.?? 测量时间:< 2s/每次; 4.?? 开机时间:< 2s/每次;(开机初始化时间) 5.?? 探头规格:配直排四点探针;(选配方形四点探针) 6.?? 电源规格:交/直流转换稳压(专配),锂电池(内置,可充电); 7.?? 整机重量:约250g(主机+测量笔); 8.?? 外形尺寸:主机:190×90×31(mm);测量笔长:1200(mm) ? ?