光损耗测试仪的详细信息

JDSU(安科特纳) OLT-55 光损耗测试仪是JDSU的SMART(灵巧型)光手持式仪表，远远超出了基本要求。已经有超过70,000 台Acterna 的手持式光表被用户广泛使用，Acterna又推出了新的SMART(灵巧型)系列手持式光表帮助您的网络达到更高的性能。
新的OLT-55 SMART光损耗测试仪是一个高性能、易于使用的仪表，它包括一个双波长或三波长光源和一个光功率计。它是一台通用仪表，用于对单模光纤与系统进行实验室测试、生产(USB接口)测试、安装、维护与故障查找。可以同时测试多至三个波长(Tripletest)的损耗。只需用一根光纤跳线将光源与光功率计连接起来，对于所有内置波长进行快速参考测试，且不受当前测试模式的影响。此外，OLT-55可以被用作光功率计或者光源，具有OLS-55与OLP-55的相应特性。由于其独有的内置自动调零功能，它创造了一个新的产业标准，即使对于非常低的功率或者很高的损耗也能够获得的测试。产品特点
  业内个具有自动调零功能(正在申请)光功率计。即使对于高损耗测量也
      能够提供出色的，无需手动调零。
  Auto- 功能提供自动波长检测以加速测试。TWINtest和新的TRIPLEtest功能可以
      同时测量与显示三个不同波长测试结果。
  加亮的图形化界面使其在阳光下和黑暗环境中也能清晰地显示测试结果。
  功率计输入端的反射限制功能减少了在适配器与光电二极管之间的多次反射，能
      够提高测试(适配器BN 2014/00.xx)。
  用于光功率计的通用光适配器，包括UPP适配器，能够保证适用于现场的所有类
      型连接器。
  光源BN 2150/00.xx的通用适配器能够用于所有的连接器类型。
  带有输出功率调整的激光源能够确保为每个应用提供正确的功率输出。
  由于具有内置的光隔离器，能够提供更高输出功率稳定性。
  USB接口提供方便的远程控制与生成。



2286 / 01型
损耗测试模式
  标称波长(1)： 1310 nm与1550 nm
  光谱宽度(RMS）： 5 nm
  光纤类型：9/125 μm
  信号稳定度(2)：
        短期：±0.02 dB，在15分钟内
         长期：±0.2 dB，在8小时内
  动态范围：60 dB
  结果显示：dB 表示
  分辨率：0.01 dB
  线性度(10)： ±0.06 dB ± 0.04 nW

功率计模式
  可调节波长范围：780到1650 nm，以1 nm为步长
  校准波长：850 nm,1310 nm,1550 nm,1625 nm
  光电二极管：锗(GE）
  光纤类型：9/125到100/140 μm
  显示范围：-70到 20 dBm
  结果显示：dBm,dB,mW,μW
  分辨率：0.01 dB
  允许功率： 20 dBm
  固有不确定度(3)： ±0.13 dB(±3%）
  整个测量（－60到 18 dBm）：
        850 nm±0.25 dB±0.8 nW
        1300,1310 nm±0.2 dB±0.2 nW
        1550 nm±0.4 dB±0.2 nW
        1625 nm(4）±0.2 dB±0.6 nW

光源模式
  标称波长(1)： 1310与1550 nm
  光谱带宽(RMS)： 5 nm
  端口数：单端口
  光纤类型：9/125 μm
  输出功率范围(5)： -7 dBm到0 dBm，分别调节
  功率设置分辨率：0.01 dB
  信号稳定度(2)：
        短期稳定度：±0.02 dB，15分钟内
        长期稳定度：±0.2 dB，8小时内
  输出功率（标称波长处)(10)：±0.3 dB
  模式：连续波(CW)，调制波（270 Hz,1 kHz,2 kHz），Auto- (6）(信号编码用于
      功率计自动波长检测）
2286 / 02型
损耗测试模式
  标称波长(1）： 1310, 1490与1550 nm
  光谱宽度(RMS）： 5 nm