X-射线荧光光谱仪的详细信息

• 类型：三元素分析仪器
• 测量时间：(s)
• 电源电压：(V)
• 测量范围：——(%)
• 测量：
• 适用范围：

???? 能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备，实现主量、次量和痕量元素分析，所分析样品范围广泛，可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。

???? 先进的技术

独特的 Peltier 电制冷 Si (Li) 检测器 数字脉冲处理 (DPP) 技术 高性能、多元素分析????? 主要功能
出色的痕量分析灵敏度 高分析量的进程控制 适用于异常材料的分析算法 出色的样品处理灵活性 机械简化和灵活性 占地面积小、易于运输以进行野外测量 快速、简易的安装以及可完全现场定制 随附完整的实验室启用套件 经验证的硬件和全套软件 现场、协同方法开发 完整的技术应用支持 汇集了数百种应用的知识???? 功能强大、易于使用的 WinTrace*软件
无标和半无标分析 基本参数 (FP) 和基于标样的经验方法 多层厚度及成分 不限元素、不限数量的标样 利用自动化操作实现多个激发条件???? 可用于：


悬浮颗粒物过滤器 符合 RoHS 及 WEEE 的分析 法医及痕量分析 营养补充剂 磁性介质和半导体 土壤污染 过滤器上的薄膜 塑料中的有毒元素