数字式CMI150涂层测厚仪的详细信息

/*110922_中文版_新中间页_中间_300*250*/ var cpro_id = 'u620430'; 数字式CMI150涂层测厚仪 特点：自动识别底材，无需校准，操作方便。双功能技术的测厚仪，完成磁感应和电涡流测量自动转换CMI150测厚仪应用双功能测量技术，能够自动识别磁性或非磁性底材，然后采用相应的测试方法，适用于各种测量环境。CMI150测厚仪可测量非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层的厚度。涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面处理。· 磁性底材上的非磁性涂层厚度。 钢铁上的非磁性涂镀层，如油漆、塑料、搪瓷、铬、锌等。· 非磁性底材上的非磁性涂层厚度。 铜、铝、奥氏体不锈钢上的所有绝缘层，如阳极氧化膜、油漆、涂料等。测厚仪电涡流测试方法应用包括铝或铜底材上的特富龙、珐琅、瓷釉、环氧树脂、阳极氧化层或涂料的厚度测量。测厚仪磁感应测试方法应用的涂镀层包括锌、镉、涂料或粉末喷涂。· 高、稳定性好· 铁基和非铁基底材自动识别、切换· 无需校准、一键操作· 一体化探头、小巧实用、测量快速· 自动开、关机以延长电池使用时间技术参数：执行标准(磁感应) ASTM B499及B530,DIN 50981,ISO 2178,BS 5411 执行标准(电涡流)  ASTM B244及B529,DIN 50984,ISO 2360,BS 5411第三部分 测量范围(磁感应)  0-80mils(0-2.04mm) 测量范围(电涡流)  0-40mils(0-1.02mm) 分辨率  10mils(254um)以下0.01mils(0.1um) 底材厚度  磁性和非磁性小底材厚度12mils(305um) 外型尺寸 9.53X5.28X2.52cm 重量  71g 单位  公、英制自动转换 电池  2节7号电池 (涂层测厚仪,镀层测厚仪,漆膜测厚仪,薄膜测厚仪,测厚仪,涡流测厚仪,油漆测厚仪,磁感应涂层测厚仪)高品质数字式CMI150涂层测厚仪  详情可咨询牛津仪器总代理：============================================================深圳市方源仪器有限公司Shenzhen Fangyuan Instrument Co., Ltd.联系电话：  86372601  86372660  86372661传真电话：移动电话：联系地址：深圳市南山区登良路62号南园综合楼B508-509============================================================常规涂镀层测厚仪的原理：　　对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和国际标准中称为覆层（coating）。　　覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。　　覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。　　X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。　　随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。　　采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。　测量原理与仪器 　　一． 磁吸力测量原理及测厚仪　　磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。　　这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。　　二． 磁感应测量原理 　　采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。