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CT-1型电解式镀层测厚仪(膜厚計)
技术参数
CT-1型电解式镀层测厚仪(膜厚計)生产厂家:日本电测公司●小解析度0.001μm●小测量面积0.17mmø●可测导电及非导电基体上的镀层●可测量合金镀层以及线材镀层●对于多层镀层可测量每一层厚度●操作简单直观●测量范围:0.006~300μm●可测镀层:金,镍,铅,无电解镍,锌,铜,镉,锡,银等等
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