X荧光光谱仪的详细信息

• 测量范围：S硫-U铀
• 测量对象：固体，粉体，液体

/*110922_中文版_新中间页_中间_300*250*/ var cpro_id = 'u620430'; EDX3600B X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性； 利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。 性能特点的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。技术指标测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）元素含量分析范围：1ppm—99.99% 同时分析元素：24种元素同时分析测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层分析：0.05% 测量对象状态：粉末、固体、液体 测量时间：60s—200s 能量分辨率为：（150±5）eV 管压：5KV—50KV 管流：50uA—1000uA 标准配置 电制冷UHRD探测器信噪比增强器 光路增强系统 内置高清晰摄像头可自动切换型准直器和滤光片 精准的升降平台 加强的金属元素感度分析器 应用领域钢铁和有色金属检测 水泥检测 矿料分析