TT230涂层测厚仪,TT230氧化膜测厚仪
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TT230涂层测厚仪,TT230氧化膜测厚仪

 TT230涂层测厚仪是一种超小型测量仪, TT230氧化膜测厚仪能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。TT230涂层测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于TT230氧化膜测厚仪体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。
TT230 涂层测厚仪符合以下标准:
GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法
JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》

TT230涂层测厚仪特点

TT230 涂层测厚仪采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层)
可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正;
具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量;
设有五个统计量:平均值(MEAN)、值(MAX)、小值(MIN)、
测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV);
具有米、英制转换功能;
具有打印功能,可打印测量值、统计值;
具有欠压指示功能;
操作过程有蜂鸣声提示;
具有错误提示功能;
具有自动关机功能。

TT230涂层测厚仪技术参数

测头类型

N

测量原理

电涡流

测量范围

0-1250um/0-40um(铜上镀铬)

低限分辨力

1μm(10um以下为0.1um)

探头连接方式

一体化

示值误差

一点校准(um)

±[3%H+1.5]

两点校准(um)

±[(1%~3%)H+1.5]

测量条件

小曲率半径(mm)

凸3 凹10

基体小面积的直径(mm)

ф5

小临界厚度(mm)

0.3

温湿度

0~40℃
20%RH~90%RH

统计功能

平均值(MEAN)、值(MAX)、小值(MIN)、
测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)

工作方式

直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)

测量方式

连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)

上下限设置

存储能力

15 个测量值

打印/连接计算机

可选配打印机/不能连接电脑

关机方式

自动

电源

二节3.6V镍镉电池

外形尺寸

150×55.5×23mm

重量

150g

TT230涂层测厚仪配置

主机
标准片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)
铝基体
充电器

品牌/商标

时代

企业类型

制造商

新旧程度

全新