SD-300i晶片表面缺陷测试仪
价格:电议
地区:北京市
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传 真:010-60546837

产品介绍:

SD-300i用于测定单晶材料的表面缺陷,适用于科研、工业生产等需求。该仪器还是一台半自动高定向仪,实现了缺陷和定向双功能。

产品特点:

     缺陷和定向双功能
     配有射线窗口电磁光闸和可靠的射线防护罩,确保安全使用

     表格和曲线的形式显示,一目了然

     速度快,重复性好

     效率高,数据实时处理

技术参数:

     测试时间:1-2分钟

     重复性:≤±5″。
     测角为±15

     小读数1

典型客户:

台湾及国内蓝宝石及半导体客户广泛应用。