X-RAY膜厚仪

规格简介

l 无标准效准：Oxford支持使用标准以解决顺应性和系统优化问题

l 包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体

l 5层/15种元素/普通元素效正

l 同时为多达15种元素进行成份分析

l 贵重金属分析和金纯度检查

l 材料与合金元素分析

l 材料鉴定与区别

l 吸收测量方式

l 液体分析：分析液体中的金属，如电镀液

l 系统自动调整和效正：效正X线导管、探测器和电子设备的变化

l 光谱计数速率峰值位移效正

l 重叠荧光峰值数字峰值反卷

l 定性光谱分析元素ID。同时轻松自如地查看和比较多达四个光谱

l Oxford统计数字和产生器LE（轻型）

Oxford SmartLink 补充软件系列

l Oxford统计数字和产生器

l 配备数据库的Oxford统计数字和产生器

l Oxford即时分析

l Oxford材料区别

l Oxford Percent P

有了Oxford SmartLink补充软件系列，您就能够将原始数据转变成强有力的资讯。所有的Oxford统计数字和产生器都让您根据自己的需要选择定制。统计数字软件提供：平均值，S.D.，小值，值，范围，偏差百分比，控制上限，控制下限，Cpk，组织图，X-bar/R。所有的性质都可以用多媒体形式做图表演示。用户可以输入测量元件的数字图像或CAD文件，并把它们直接放在品质上。

l 配备数据库的Oxford统计数字和产生器：与上面相同，但包含一个完整的数据库。数据库总共包含十个可追踪域，其中八个为用户定义域。元件号和日期/时间域为标准域。通过用户选择索引对数据进行存档、索引和分类处理。

l Oxford即时分析、材料区别和Percent P等选项，能够为您的具体应用优化CMI900系列仪器的功能。这些选项可能包含附加软件、定制功能和附加硬件，以提高系统性能。

激励

l 下视X线。X线射束90度采样

l 风冷微聚焦X导管，提供钨、钼和其它阳极。

电力：瓦特，4-50kv可编程，0-1.5mA

l 准直管：多个（多6个），可编程，圆形，矩形（我们将帮助您选择适合于您应用的准直管）

l 主要过滤器：提供各种厚度及材料

X线探测器和信号处理

l X线探测器：密封氙气正比计数器；提供其它填充气体

l 探测器过滤器：多3个，5个位置，可编程-马达驱动；提供钒、铁、锡、和其他元素

l 高速探测器信号处理电子设备，具有峰值位移校正功能

样品处理

l 样品室：密封（950系列）或开缝（900系列）

l 在X、Y、Z轴上可编程马达驱动控制

l 高清晰度、实时、彩色样品示图，15〞（38.10cm）（标准）或17〞（43.18cm）（选项）

l 彩色样品图像捕获和打印

l 激光样品聚焦

l 电脑产生十字线，准直管尺寸指示器，用于样品准定位

l 可变聚焦距离控制，以适应变化的样品外型

l 样品变大：选择30、50、或100放大。提供固点聚焦距离或可变聚焦距离选项

测量

l 鼠标器启动“点击”测量

l 自动测量重复功能

l 安全：多用户多级密码保护