LED芯片/成品老化测试系统
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LED芯片/成品老化测试系统WEIMIN LB400/LED-8001.400颗LED芯片/成品同时老化2.20组电流源独立供电3.X-Y平台自动移动定位,全密闭式测试环境4.自动进行老化前后光电参数测试5.长期数据统计及监控6.40块老化板(可根据客户要求订制)7.使用于芯片,Lamp, SMD,大功率等各类LED以上是LED芯片/成品老化测试系统的详细信息,如果您对LED芯片/成品老化测试系统的价格、厂家、型号、图片有什么疑问,请联系我们获取LED芯片/成品老化测试系统的新信息。