产品名称： BC3187光电耦合器件测试系统

测试系统用途及主要测试对象测试系统可对半导体分立器件进行测试，可测试的器件类型和参数项如下：光耦： CTR、BVECO、Tr、Tf、Toff、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR 光敏二、三极管：ID、IL、VOC、ISC、BV、BVCE 测试系统可对器件测试结果进行存储和打印。测试原理符合相应的国家标准、国家军用标准。

测试系统用途及主要测试对象
测试系统可对半导体分立器件进行测试，可测试的器件类型和参数项如下：
光耦： CTR、BVECO、Tr、Tf、Toff、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR
光敏二、三极管：ID、IL、VOC、ISC、BV、BVCE
测试系统可对器件测试结果进行存储和打印。
测试原理符合相应的国家标准、国家军用标准。
测试系统技术指标
1. 电流/电压源 VIS
1). 加压(FV)

量   程	分辨率	精   度
±20V	610uV	±0.1% 设定值±2mV
±10V	305uV	±0.1% 设定值±2mV
±2V	61uV	±0.1% 设定值±2mV

2).加流(FI)：

量   程	分辨率	精   度
±20A	610uA	±0.5% 设定值±50mA
±2A	61uA	±0.2% 设定值±5mA
±200mA	6.1uA	±0.1% 设定值±500uA
±20mA	610nA	±0.1% 设定值±50uA
±2mA	61nA	±0.1% 设定值±5uA
±200uA	6.1nA	±0.1% 设定值±500nA
±20uA	610pA	±0.2% 设定值±50nA
±2uA	61pA	±0.5% 设定值±5nA

2. 数据采集 VM   
16位ADC，100K/S采样速率。
1). 电流测量(MI)

量   程	分辨率	精   度
±10A	305uA	±0.5% 读数值±20mA
±2A	61uA	±0.2% 读数值±5mA
±200mA	6.1uA	±0.1% 读数值±500uA
±20mA	610nA	±0.1% 读数值±50uA
±2mA	61nA	±0.1% 读数值±5uA
±200uA	6.1nA	±0.1% 读数值±500nA
±20uA	610pA	±0.1% 读数值±50nA
±2uA	61pA	±0.2% 读数值±5nA
±200nA	6.1pA	±0.5% 读数值±0.5nA

2). 电压测量(MV)

量   程	分辨率	精   度
±1000V	61mV	±0.5% 读数值±200mV
±100V	3.05mV	±0.2% 读数值±20mV
±20V	610uV	±0.1% 读数值±10mV
±10V	305uV	±0.1% 读数值±10mV
±2V	61uV	±0.1% 读数值±2mV
±200mV	6.1uV	±0.2% 读数值±2mV

3. 高压源  HVS(基本)  16位DAC

量   程	分辨率	精   度
±1000V/5mA	30.5mV	±0.5% 设定值±500mV

测试系统硬件基本配置
主控计算机一台：Windows操作系统、PCI插槽1个以上；
计算机PCI接口板(CPUINT)一块；
系统接口板(SYSINT)一块(含GPIB接口)；
数据采集板(VM)一块；
20A/20V程控电流电压源(VIS)两块；
±1000V程控电压源(HVS)一块；
电流/电压转换板(IVC）一块；
电源控制板(PWC)一块；
测试台矩阵板(STATION)一块；
自检模板二个；
测试适配器四个（二极管、TO-92、TO-3、TO-220）。
测试系统软件
系统软件一套，其中包括：
1. 菜单式测试程序编辑软件
2. 诊断软件
3. 校准软件