aas光谱仪（atomic absorption spectrometer）即原子吸收光谱仪，利用原子吸收光谱法测定元素的仪器。基本原理是当辐射投射到原子蒸气上时，如果辐射波长相应的能量等于原子由基态跃迁到激发态所需要的能量时，则会引起原子对辐射的吸收，产生吸收光谱。基态原子吸收了能量，最外层的电子产生跃迁，从低能态跃迁到激发态。
　　aas光谱仪是由光源、原子化系统、分光系统和检测系统组成。
　　分析校正方法：
　　1、用邻近非共振线校正背景：
　　邻近线背景校正法是采用一条与分析线相近的非吸收线，被测元素基态原子对它无吸收，而背景吸收的范围较宽，所以对它仍然有吸收。当分析时，背景和被测元素对分析线都产生吸收，分析线的吸光度值和邻近线的吸光度值两者之差即为被测元素的净吸光度值。
　　2、连续光源校正背景：
　　这种方法是用一个连续光谱（氘灯）与锐线光源的谱线交替通过原子化器并进入检测器。当氘灯发出的连续光谱通过时，可以认为用氘灯的连续光谱所测得的吸光度是背景吸收值，而锐线光源通过原子化器时产生的吸收为背景吸收和被测元素吸收之和，两者的差值为净的吸光度值。通常认为，用氘灯做为连续光源扣背景时，适用于测试特征谱线350nm以下的元素。
　　3、塞曼效应校正背景：
　　这种校正方法将一磁场加在光源或原子化器上进行调制，使共振发射线或吸收线分裂成偏振方向不同的两种光线，偏振方向与磁场方向平行的光，我们称之为π线(其波长未变), 偏振方向与磁场方向垂直的光, 我们称之为σ线(其波长已改变)。在没加磁场时测得的吸收信号，是原子吸收和背景吸收，在加磁场时，基态原子对σ线的吸收为背景吸收(纵向塞曼磁场扣背景的仪器，在加磁场时，由于π线偏振方向平行于光的传播方向，仪器检测不到),因此两者的差值即为扣除背景后的原子吸收值。
　　4、自吸效应校正背景：
　　自吸效应校正背景法是基于高电流脉冲供电时空心阴极灯发射线的自吸效应。当以低电流脉冲供电时，空心阴极灯发射锐线光谱，测定的是原子吸收和背景吸收的总吸光度。接着以高电流脉冲供电，空心阴极灯发射线变宽，当空心阴极灯内积聚的原子浓度足够高时，发射线产生自吸，在极端的情况下出现谱线自蚀，这时测得的是背景吸收的吸光度。上述两种脉冲供电条件下测得的吸光度之差，便是校正了背景吸收的净原子吸收的吸光度。