白光干涉仪是一种高精度的非接触式表面形貌测量仪器，广泛应用于材料科学、微电子、光学元件、生物医学等领域。它利用白光光源（宽光谱光源）与干涉原理来获取样品表面三维形貌信息。以下是白光干涉仪的使用方法，供参考：
　　一、使用前准备
　　1.环境要求
　　确保实验室温度稳定（通常20±1°C），避免温度波动引起热漂移。
　　避免振动：仪器应放置在防振台上，远离震动源（如压缩机、马达等）。
　　保持环境清洁，防止灰尘污染光学系统或样品。
　　2.开机预热
　　打开电源，先启动计算机和控制软件。
　　开启白光干涉仪主机电源，让光源和系统预热15–30分钟，以达到稳定状态。
　　3.校准仪器
　　使用标准样块（如台阶高度标准片、表面粗糙度标准片）进行系统校准。
　　校准物镜：选择合适倍率的物镜，并通过软件进行焦距和零点校正。
　　校准Z轴：确保垂直方向（Z向）扫描精度准确。
　　二、样品安装与设置
　　1.清洁样品
　　用无尘布或氮气吹净样品表面，避免灰尘影响测量结果。
　　2.放置样品
　　将样品平稳放置在载物台上，确保其稳固不晃动。
　　对于反射型样品，注意表面朝向物镜；透射型需使用透射物镜。
　　3.选择物镜
　　根据待测区域大小和分辨率需求选择合适的物镜（如10x,50x,100x等）。
　　高倍物镜分辨率高但视场小，低倍则相反。
　　三、对焦与定位
　　1.粗调对焦
　　使用显微镜模式（明场/暗场）通过手轮或软件控制粗略对焦，找到样品表面。
　　2.精细对焦
　　启动自动对焦功能，系统会寻找干涉信号最强的位置作为初始焦点。
　　3.选择测量区域
　　在软件界面中框选需要扫描的区域（ROI）。
　　四、参数设置
　　1.扫描模式选择
　　白光干涉仪常用扫描方式：
　　垂直扫描干涉法：适用于非相干光源，适合测量粗糙表面。
　　相移干涉法：适用于光滑表面，精度更高。
　　软件通常会根据表面特性自动推荐模式。
　　2.设置扫描范围
　　设置Z轴扫描行程，覆盖样品表面高低变化范围，建议略大于预期高度差。
　　3.设置步长
　　步长影响数据密度和扫描时间，一般为几十到几百纳米。过大会丢失细节，过小增加噪声和时间。
　　4.其他参数
　　曝光时间、扫描速度、滤波方式等可根据样品反光性调整。
　　五、开始测量
　　1.启动扫描
　　点击“开始”按钮，系统自动进行Z向扫描并采集干涉图序列。
　　2.数据处理
　　扫描完成后，软件通过算法（如包络检测+相位解算）重建三维表面形貌。
　　常见算法：峰值探测法、傅里叶变换法、相位展开等。
　　六、数据分析与输出
　　1.三维图像显示
　　查看样品表面三维形貌图、二维剖面线、颜色高度图等。
　　2.参数计算
　　可自动计算以下参数：
　　表面粗糙度：Ra、Rq、Rz等
　　3.台阶高度
　　平面度、平整度
　　体积、倾斜角、曲率等
　　4.报告生成
　　导出图像、数据表格和分析报告（PDF、Excel等格式）。
　　七、结束操作
　　1.关闭扫描
　　测量完毕后，将物镜移开，取下样品。
　　2.清洁维护
　　清洁载物台和物镜前端（使用专用镜头纸和清洁液）。
　　3.关机
　　退出软件，关闭主机电源，盖上防尘罩。
　　总结：以上是白光干涉仪的使用方法，遵循以上操作，可确保仪器的精准性和稳定性，从而延长其使用寿命！