四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。

    该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的，专用于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的专用仪器。

    该仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。

    四探针测试仪的功能描述：

    1、四探针单电测量方法；

    2、液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿；

    3、高集成电路系统、恒流输出；

    4、选配：PC软件进行数据管理和处理；

    5、提供中文或英文两种语言操作界面选择。

    适用范围：

    1、覆盖膜；导电高分子膜，高、低温电热膜；隔热、防辐射导电窗膜导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸；金属化标签、合金类箔膜；

    熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜；

    电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试。

    2、硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件；

    导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜。

    3、EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜。

    4、抗静电材料，EMI防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等。