SU9000新型超高分辨冷场发射扫描电镜

发布时间:2014-05-04 10:35

基本信息

产品分类

新型超高分辨冷场发射扫描电镜

图片

商机类型

[代理]

产品型号

SU9000

所在地

北京

相关参数

项目

技术指标

二次电子分辨率

0.4nm (加速电压30kV,放大倍率80万倍)

1.2nm (加速电压1kV,放大倍率25万倍)

STEM分辨率

0.34nm(加速电压30kV,晶格象)

观测倍率

底片输出

显示器输出

LM模式

80~10,000x

220~25,000x

HM模式

800~3,000,000x

2,200~8,000,000x

样品台

侧插式样品杆

样品移动行程

X

±4.0mm

Y

±2.0mm

Z

±0.3mm

T

±40

标准样品台

平面样品台:5.0mm×9.5mm×3.5mmH

截面样品台:2.0mm×6.0mm×5.0mmH

专用样品台

截面样品台:2.0mm×12.0mm×6.0mmH

双倾截面样品台:0.8mm×8.5mm×3.5mmH

信号检测器

二次电子探测器

TOP 探测器(选配)

BF/DF STEM探测器(选配)

    

面议

详细说明

日立2011年新推出了SU9000超高分辨冷场发射扫描电镜,达到扫描电镜世界二次电子分辨率0.4nmSTEM分辨率0.34nm。日立SU9000采取了全新改进的真空系统和电子光学系统,不仅分辨率性能明显提升,而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作,可以高效率的快速获取样品超高分辨扫描电镜图像。

特点:

1. 新型电子光学系统设计达到扫描电镜世界分辨率:二次电子0.4nm30KV),STEM 0.34nm30KV)。

2. Hitachi专利设计的E×B系统,可以自由控制SEBSE检测信号。

3. 全新真空技术设计使得SU9000冷场发射电子束具有超稳定和高亮度特点。

4. 全新物镜设计显著提高低加速电压条件下的图像分辨率。

5. STEM的明场像能够调整信号检测角度,明场像、暗场像和二次电子图像可以同时显示并拍摄照片。

6. FIB兼容的侧插样品杆提高更换样品效率和高倍率图像观察效率。

联系方式

公司名称:

天美(中国)科学仪器有限公司

    

北京市朝阳区红军营南路天畅园7号楼13

    话:

01064010651

    址:

http://www.techcomp.cn/

    真:

01064060202

E - mail

techcomp@techcomp.cn

邮政编码:

100107

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