
荧光镀层测厚仪
发布时间:2013-03-11 16:02|
基本信息 |
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产品分类 |
测厚仪 |
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图片 |
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商机类型 |
[代理] |
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产品型号 |
CMI900 |
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所 在 地 |
上海 |
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相关参数 |
测量方法符合ISO 3497,ASTM B568和DIN 50987 |
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产品用途 |
应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。 涂镀层厚度测量和/ 或成分分析,元素范围 Ti - U 可同时进行多达15层元素成分 分析 应用 多镀层金属厚度测量 合金鉴定及化学分析 电镀液分析 金成色分析 |
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价 格 |
面议 |
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详细说明 | |
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特点 标准50瓦微焦X射线管 计数率增加,精度提高 可升级75瓦光管 多准直器 计数率和光斑尺寸之间的平衡 镭射聚焦 改善系统再现性(消除人为干扰) 标准FP软件包 综合应用模式 简单校准 开槽式设计样品台,自动寻找适合所设定焦距的Z轴坐标 提供中文等7种语言界面 规格 X射线激发 50 瓦微聚焦钨靶 X 射线管 探测器 氙气填充的正比计数器 数字脉冲处理 4096 多道数据分析功能 自动信号处理,包括死时间修正 计算机 奔腾 D,3.0 GHz,160 Gb 硬盘,512Mb 内存,MicrosoftTM XP 系统 **同等 配置或更好 电源 85~130 或 215~265 伏, 频率范围:47Hz - 63Hz 工作环境 50°F (10°C) - 104°F (40°C) ,相对湿度达98%,非凝固状态 工作台行程(XYZ 轴可调节) 6" x 7" x 1.9" (15.2cm x 17.8cm x 4.8cm) | |
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联系方式 | |
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公司名称: |
英国牛津仪器公司-工业分析部 |
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地 址 : |
上海市南京东路800号新一百大厦14楼F座 |
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联 系 人: |
黄小姐 |
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电 话: |
021 -64908280 |
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网 址: |
http://www.oichina.cn/ |
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传 真: |
021 64904042 |
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E - mail: |
info.oiplc@oxinst.com |
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邮政编码: |
201109 |
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