方块电阻使用说明

发布时间:2017/12/14 10:34:00

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  • 产品名称:方块电阻

  • 产品型号:XC-WSP-51

  • 产品厂商:星晨

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简单介绍:产品概述: 方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪 型号:XC-WSP-51详情介绍:

产品概述:

方块电阻/电阻率四探针测试仪/便携式四探针检测仪  型号:XC-WSP-51

XC-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。

本测试仪可赠设电池供电,适合手持式变动场合操作!

仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入;具有零位、满度自校功能;自动转换量程;测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。

三、基本技术参数

1. 测量范围、分辨率

电    阻:     1.0×10-2 ~ 2000 Ω,    分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10  Ω

电 阻 率:     1.0×10-3~ 2000 Ω-cm  分辨率0.1×10-2 ~ 0.1  Ω-cm

方块电阻:     1.0×10-3 ~ 2000Ω/□  分辨率1.0×10-1 ~ 0.1×10  Ω/□ 

2. 可测半导体材料尺寸(手持式)

直        径:  测试台直接测试方式 Φ15~130mm,其他方式不限.

长(或高)度:  测试台直接测试方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3. 量程划分及误差等级

量程

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

基本误差

±1%FSB±2LSB

±1.5%FSB

±4LSB

4) 适配器工作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或电池供电

5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

净   重:≤0.5kg

1.一年质保,终身维护。

2.在质保期内,除人为因素外,任何因仪器设计、材料或工艺不当引起的缺陷、

故障我们修理或更换。

3.接到用户通知所提供的仪器出现故障后,十分钟内回应。

4.保证及时向用户以惠的价格提供所需的备品备件和易损件。