Werth TomoScope X射线断层扫描测量机将X射线扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现产品无损可视化准确测量，并可选配光学、光纤、探针、激光扫描等多种传感器。对工件内外部所有结构尺寸全面的高精密测量，同时可实现工件材质的缺陷分析。可对塑料、陶瓷、复合材料、金属等多种材质制成的产品进行无损尺寸测量和装配评估等。压缩测量周期的同时，保证了高品质的要求。此机荣获2005年度欧洲模具设计金奖。

Werth TomoScope X射线断层扫描测量机主要特点：
◆  将X射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现复杂部件高内外尺寸全面测量
◆  可选配第二个Z轴，配置其他传感器（光学、探  针、光纤、激光等）
◆ Werth公司技术复合式传感器技术，进一步保证 CT测量数据更准确
◆ 坚固的花岗岩基座，保证机器具有高稳定性
◆ 高精密机械轴承技术及线性导轨系统，确保实现高的测量
◆ 无论从设计还是结构，测量机完全满足并超出X射线使用安全标准
◆ 基于Werth公司优异的图形处理及3D重构技术，测量速度更快 
◆  Werth公司技术的X射线传感器独立校准系统
◆  Werth公司技术的栅格断层扫描技术：
        精密测量微小部件
        扫描更大尺寸工件，提高分辨率
        扩展测量范围
◆  测量软件可快速3D重构，也可进行2D测量
◆  测量工件内部尺寸的同时，也可实现材质缺陷分析
◆  选用广泛应用的WinWerth软件 (德国国家计量院PTB长度标准) ，界面友好，操作简单
◆  可使用Bestfit及公差拟合Tolerancefit软件进行轮廓匹配分析及三维CAD工件公差比对
◆  广泛应用于复杂尺寸测量，首件评估，逆向工程，质量控制等

应用领域: 模具行业、逆向工程、汽车行业、航空航天、精密机械加工、船舶等

技术参数：

 应用实例：

Werth TomoScope X射线断层扫描测量机非接触无损内部缺陷扫描。