Werth TomoScope X射线断层扫描测量机

发布时间:2019/8/12 15:33:00

Werth TomoScope X射线断层扫描测量机将X射线扫描成像技术整合到三坐标测量系统,实现产品无损可视化准确测量,并可选配光学、光纤、探针、激光扫描等多种传感器。对工件内外部所有结构尺寸全面的高精密测量,同时可实现工件材质的缺陷分析。可对塑料、陶瓷、复合材料、金属等多种材质制成的产品进行无损尺寸测量和装配评估等。压缩测量周期的同时,保证了高品质的要求。此机荣获2005年度欧洲模具设计金奖。


Werth TomoScope X射线断层扫描测量机主要特点:
◆  将X射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统,实现复杂部件高内外尺寸全面测量
◆  可选配第二个Z轴,配置其他传感器(光学、探  针、光纤、激光等)
◆ Werth公司技术复合式传感器技术,进一步保证 CT测量数据更准确
◆ 坚固的花岗岩基座,保证机器具有高稳定性
◆ 高精密机械轴承技术及线性导轨系统,确保实现高的测量
◆ 无论从设计还是结构,测量机完全满足并超出X射线使用安全标准
◆ 基于Werth公司优异的图形处理及3D重构技术,测量速度更快 
◆  Werth公司技术的X射线传感器独立校准系统
◆  Werth公司技术的栅格断层扫描技术:
        精密测量微小部件
        扫描更大尺寸工件,提高分辨率
        扩展测量范围
◆  测量软件可快速3D重构,也可进行2D测量
◆  测量工件内部尺寸的同时,也可实现材质缺陷分析
◆  选用广泛应用的WinWerth软件 (德国国家计量院PTB长度标准) ,界面友好,操作简单
◆  可使用Bestfit及公差拟合Tolerancefit软件进行轮廓匹配分析及三维CAD工件公差比对
◆  广泛应用于复杂尺寸测量,首件评估,逆向工程,质量控制等

应用领域: 模具行业、逆向工程、汽车行业、航空航天、精密机械加工、船舶等

  

技术参数:

型   号

TomoScope HA

TomoCheck

TomoScope

HV Compact

TomoScope HV 500

分辨率

0.1μm

0.1/0.01μm

0.1μm

0.1μm

定位速度

150mm/s

60mm/s

150mm/s

150mm/s

加速度

300mm/s2

250 mm/s2

350 mm/s2

350 mm/s2

工作台承重

2kg

10kg

40kg

40kg

仪器自重

3000kg

6000kg

11000kg

13000kg

 

 应用实例:

Werth TomoScope L

Werth TomoScope X射线断层扫描测量机非接触无损内部缺陷扫描。