使用金相显微镜系列配合起偏，检偏及DIC微分干涉，可以很好的观察屏的导电粒子，确认导电粒子个数是否符合要求。

    首先，需要观察导电粒子必须要有配有DIC及起偏检偏器的金相显微镜。对于观察导电粒子来说一般选用的镜头是要求为不超过20倍为，超过后会由于景深的问题导致观察效果模糊，无法观察到的效果。

    准备好金相显微镜及必要的屏后就可以开始观察导电粒子了。首先把DIC及起偏检偏拉出，然后把屏放置在载物台上，调整好焦距，通过载物台移动后找到观察位置。现在插入起偏及检偏器，通过目镜观察屏上位置，再调节检偏器，直到光线最黑时停止调节检偏器。插入DIC,调节DIC进行偏光直到看到导电粒子最清晰时就可以停止了。