射频导纳是一种从电容式测量原理而发展起来的、它具有防挂料、更可靠、更准确、适用更广泛的料位控制技术，射频导纳中导纳的含义为电学中阻抗的倒数，它由电阻性成分、电容性成分、电感性成分综合成，而射频即高频无线电波谱，所以射频导纳可以理解为用高频无线电波测量导纳。

      Techstar/泰科时代射频导纳技术与电容技术的重要区别是采用了三端技术。如图1。在电路单元测量信号上引出一根线，经同相放大器放大，其输出与同轴电缆屏蔽层相连，然后又连到探头的屏蔽层上（C0te-sHield）。该放大器是一个同相放大器，其增益位“1”，输出信号与输入信号等电位、同相位、同频率但相互隔离。地线是电缆中另一条孤立的导线，由于同轴电缆的中心与外层屏蔽存在上述关系，所以二者之间没有电位差，也就没有电流流过，即没有电流从中心线漏出，相当于二者之间没有电容或电容等于零。因此电缆的温度效应，安装电容等也就不会产生影响。

       对于探头上的挂料问题Techstar/泰科时代采用一种新的探头结构如图2，五层通信结构：最里层是中心测杆、中间是  Cote-shield屏蔽层、最外面是接地的安装螺纹，用绝缘层将其分别隔离起来。图2给出了探头上挂料的等效电路，与同轴电缆的情况是一样的，中心测杆与屏蔽层之间没有电势差，即使传感元件上挂料阻抗很小，也不会有电流流过，电子仪器测量的仅仅是从探头中心到对面罐壁的电流，因为Cote-shield元件能阻碍电流沿探头向上流向罐壁，因而对地电流只有经探头末端通过被测物料到对面容器壁。即Ua=UbIab=（Ua-Ub）÷R=0。由于屏蔽层与容器壁之间存在电势差，两者之间虽有电流流过，但该电流比被测量，不影响测量结果。这样就将测量端保护起来，不受挂料的影响，只有容器中的物料确实上升或下降接触到中心测量杆时，通过被测物料，中心杆与地之间形成被测电流，仪器检测到该电流，产生有效输出信号.

       对于连续测量，Techstar/泰科时代射频导纳技术与传统电容技术的区别除了上述将过的以外，还增加了两个很重要的电路，这是根据对导电挂料实践中的一个很重要的发现改进而成的。上述技术在这时同样解决了连接电缆问题，也解决了垂直安装的传感器根部挂料问题。所增加的两个电路是振荡器缓冲器和交流变换斩波器驱动器。对于一个强导电性被测介质的容器，由于被测介质是导电的，接地点可以被因为在探头绝缘层的表面，对变换器来说仅表现为一个纯电容。随着容器排料，杆上产生挂料，而关料是具有阻抗的。这样以前的纯电容现在变成了由电容和电阻等成分组成的复族抗，从而引出两个基本点问题。

       第一个问题是介质本身对探头相当于一个电容，它不消耗变换器的能量（纯电容不消耗能量）。但挂料对探头等效电路中含有电阻，而刮料阻抗会消耗能量，从而将振荡器电压拉下来，导致桥路输出改变，产生测量误差。我们在震荡器与电桥之间增加了一个缓冲放大器，使消耗的能量得到补充，因而不会降低加在探头的振荡电压。

       第二个问题是对于导电被测介质，探头绝缘层表面的接地点覆盖了整个被测定介质及挂料区，使有效测量电容扩展到挂料的顶端，这样一来便产生刮料误差，且导电性越强误差越大。但任何被测介质都不是完全导电的。从电学角度来看，挂料层相当于一个电阻，传感元件被关料覆盖的部分相当于一条由无数个无穷小的电阻和电容元件组成的传输线。根据数学理论，如果挂料足够长，则刮料的电容和电阻部分的租抗相等。因此根据对挂料阻抗所产生的误差研究，又增加了一个交流驱动器电路。该电路与交流变换器或同步检测器一起就可以分别测量电容和电阻。由于挂料的阻抗和容抗相等，则测量的总电容相当于C+ C挂料，在减去C挂料相等的电阻，就可以实际测量真实值，从而排除刮料的影响。

               即C测量=C+C挂料，

                   C=C测量-C挂料

                     =C测量-R

      这些，多参数的测量，是必须的基础，交流鉴相采样器是实际的手段。由于Techstar/泰科时代射频导纳使用了上述三项技术，使得Techstar/泰科时代射频导纳技术在现场应用中展现非凡的生命力。