实验内容:
●测量薄膜厚度。
●测量介质折射率。
●验证马吕斯定律。
●观察了解光的偏振现象。
仪器特点:
●以分光计为平台，测量薄膜厚度。
●利用软件进行数据处理。
设备成套性:
●半导体激光器、数字检流计、光电探头、
待测样品、起偏器、检偏器、分光计
(选配)等。
主要技术指标:
测量透明薄膜厚度范围0 - 300nm,
折射率1.30-2.49。
起偏器、检偏器、1/4波片刻度范围0* -360°，
游标读数0.10。
测量精度: +2nm。
入射角ψ1=70° ，K9玻璃折射率n=1.515。
消光系数: 0,空气折射率1。
●半导体激光器波长λ = 635nm。