导电型号测试仪是严格按照标准SEMI MF42-1105及标准GB/T1550中的全类型整流法设计。

本仪器将三根测试探针做成测量探头，意两根针之间绝缘度大于500MΩ，每根探针均有独立伸缩和加压机构，因此样品上无需制备电极。

探针与半导体材料上产生的整流电势差经低噪声、低飘移集成运算放大器放大后，用液晶显示器件直接指示型号。 

技术参数

（1）标准确认：可准确判别硅材料导电型号的电阻率范围：0.05～1000Ω·cm

（2）本仪器实际可测量硅材料电阻率范围：10-2～104 Ω·cm

（3）可测线度大于5mm的意形状的硅块和硅片，样品长度、直径不受限制

（4）显示方式：由显示N和P字样的液晶器件直观指示半导体材料型号

（5）探针采用耐磨的碳化钨硬质合金，直径0.8mm，每根针有独立的加压机构，压力可在50～500克（单针）范围内根据用户需要进行调整

（6）探针间距：1.59mm（探针直径0.8 mm）或1.00 mm（探针直径0.5 mm）

（7）外型尺寸：210×100×230（宽×高×深，单位mm）

（8）重量：约3kg

（9）电源：交流 220V±10%，50HZ。功耗≤20W