天瑞仪器X射线镀层厚度测厚仪

天瑞仪器有限公司生产的能量色散 X 荧光光谱镀层系列产品，

就是在镀层检测行业应用具有以下特点：

1、   分析速度 gao。测定用时与测定 jing 密度有关，但一般都较短，5～40S 就可以测完样品中的全部待测元素，测量效果较佳。

2、   结构简单，ke kao 性高，对环境要求较低，可以使用在生产一线，并对操作人员的要求也较低。维修方便，维护成本较低。

3、   采用 jin kou 较优的 FSDD 探测器，分辨率可da 129eV，并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用较方便，并且运行成本比同类的其他产品低。

4、   X 射线荧光分析仪器是一种物理分析方法，其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。可分析的元素范围从 S(16)到 U(92)。

5、   它是非 po huai 分析。在测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性较好。

6、   测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析 jing 度、重复性与wen ding 性较高。所以，其测量的ke kao 性较高。检出限可da  0.005um（不同的样品其指标有所不同）。

7、   自动 X、Y 快速移动平台，快速定位移动平台和一键测试按钮使测试便捷快速。

8、   在实际应用中，对主元素与参考元素可以同时分析，定性、半定量分析，这非常适合一线生产工艺指导的要求，同时对产品失效快速分析提供依据。测试软件为 WINDOWS 操作系统软件，操作方便、功能qiang da ，软件可 jian kong 仪器状态，设定仪器参数，并就有多种xian进的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。