测厚仪技术参数

发布时间:2024/1/4 21:18:00

天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验,zhuan门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷,无需液氮,无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行jing准检测,帮助企业准确核算成本及质量guankong。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等lingyu。

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测厚仪硬件配置:

Jin口的gao功率gao压单元搭配微焦斑的X光管,ji大的bao证了信号输出的效率与wen定性。

EDX600 PLUS测厚仪能wanmei的将不同的元素准确解析,针对多镀层与复杂合金镀层的测量,有着不可比拟的youshi。

在准直器的选择上,EDX600PLUS也有着较大的youshi,它可以搭配的准直器geng小:0.1*0.3mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm;φ0.5mm等等。用chao小的准直器得到的chao小光斑,让geng小样品的测量也变得游刃有余。

测厚仪技术参数:

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