金属化陶瓷镀层测厚仪

本仪器专门针对金属化陶瓷镀层厚度测量、镀层元素的的种类及含量的快速无损分析而设计，具如下特点：

1.微小焦斑X射线测量系统

2.高移动平台及定位装置

3.大面积高分辨率探测器 

4.采用FPTHICK软件实现计算，实现对单镀层，双镀层，三镀层和合金镀层的测试

5.防碰撞保护装置有效保护测试机构和样品

金属化陶瓷镀层测厚仪业内难点

光斑需足够小，以实现小测试点的测量

测试点定位不准

能测试不同厚度的样品

难以兼顾高分辨率和高记数率

无法同时分析合金镀层含量和厚度

使用先进的激光打孔技术，制作出Φ0.1mm以内微小孔准直器。实现了Φ0.25mm的光斑，满足客户的测试需求。

高二维样品移动平台，可准确定位测试点，重复定位达5μm以内

用户可通过鼠标点击视频范围内的任意一点，进行定点测试

金属化陶瓷镀层测厚仪采用高度定位激光，自动调节测试机构的升降运动，保证测试不同厚度的样品具有相同的测试距离，从而保证了结果的正确性。

采用大面积（25mm^2）Si-pin 半导体探测器，即实现高分辨率，亦保证足够高的记数率，从而实现测量。

金属化陶瓷镀层测厚仪采用FPTHICK软件：通过复杂的数学运算，计算出每中元素之间的相互影响系数，对测试结果进行修正，能有效提高测试的度。

该软件不但能计算出合金镀层的厚度，可同时分析出该合金镀层中各种元素的含量，实现厚度含量一步到位。

天瑞X荧光仪器特点

样品处理方法简单或无前处理

可快速对样品做定性分析

对样品可做半定量或准定量分析

谱线峰背比高,分析灵敏度高

不破坏试样,无损分析

试样形态多样化(固体、液体、粉末等)

设备可靠、维修、维护简单

便捷、低廉的售后服务保证

针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析；

软件可分析5层25种元素镀层；

通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求；

配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品的精准分析；

内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；

高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。

X荧光测厚应用领域

耐磨镀层 如镀Ni、镀Cr、镀Ni-W、Ni-Co、NiP合金

减摩镀层 如镀Sn、In、Sn-In合金

热加工镀层 如防渗碳镀Cu、防渗氮镀Sn

反光镀层 如镀Ag、光亮Ni等

防反光镀层 如镀黑Ni、镀黑Cr等

导电镀层 如镀Au、Ag、Sn、Cu等

磁镀层 如镀Ni-Fe合金、Ni-Co，钼-锰合金等

抗氧化镀层 如镀Cr、镀Pt-Rh合金

耐酸镀层 如镀Zn、Sn-Pb合金等 

公司介绍

江苏天瑞仪器股份有限公司总部位于全国百强县之首江苏省昆山市，公司成立于1992年，前身西安西清华仪器研究所，历经20多年的发展，以成长为国内分析仪器行业龙头公司，2011年在深圳创业板上市，为国内分析仪器行业上市公司，股票代码300165.公司已成为集研发、销售、生产和服务于一体的现代高科技企业，在北京，上海、深圳等地拥有多家子公司，构筑了面向的销售和服务网络，涵盖光谱，色谱，质谱仪器，环境科学，医疗等业务领域，涉及电子电器，贵金属，检测、冶金、环保，医疗，食品安全，电镀，石油冶炼等领域。

公司严把质量关，技术精益求精，服务及时周到，是用户信得过的朋友。产品不仅在中国市场上并已远销印度、韩国、泰国、孟加拉、巴基斯坦、印度尼西亚、伊朗、越南、新加坡、马来西亚、阿联酋、土耳其、苏丹、美国、英国、德国、法国、俄罗斯、澳大利亚、意大利、 埃及、南非、叙利亚等多个国家。至今，天瑞仪器在提供了5万台以上的分析测量仪器。