X荧光分析仪原理

发布时间:2019/8/28 13:47:00

X荧光分析仪原理

1.jpg

X射线荧光分析仪原理:使用初级X射线激发待测物质中的原子,并产生二次X射线,即X射线荧光,用于材料成分分析的方法。当原子被X射线X射线激发时,电子的内层会有空洞,原始的平衡状态被破坏,外层的电子将转变为内部的电子空位,内外层电子会有能量。水平差异,多余的能量将以X射线的形式释放,这就是我们所说的二次X射线光,也称为X射线荧光。不同的元素有不同的能量。通过识别他们的能量,他们可以确定哪些元素。这是定性分析的基础。 

 X荧光光谱仪主要由激发光源,光谱仪,探测器,数据处理,输出等单元组成。激发源的作用是产生初级X射线。它由高压电源和X射线管组成。后者更强大,同时用水和油冷却。光谱装置的功能是分离不同波长的X射线。它由样品室,狭缝,测角仪,分析晶体等组成。探测器的作用是将X射线能量光信号转换成电信号。通常使用的是比例计数管,半导体检测器等。数据处理包括放大器和多通道脉冲分析仪。通过标准测量获得已知含量的强度,以比较未知含量的样品以获得测量元素的含量。

45.jpg


X荧光光谱仪用途广泛,相比其它分析仪器,它的优点有

121标题.jpg

应用领域:

3445645.jpg